Первый спектрометр Csi-Lab для XPS при давлениях, близких к атмосферному, отправлен заказчику
В конце июля 2025 года первый полностью произведённый в Китае рентгеновский фотоэлектронный спектрометр для измерений при давлениях, близких к атмосферному (XPS150-NAP), разработанный и изготовленный Csi-Lab, был отправлен заказчику. Выпуск первого прибора стал шагом к замещению импортного оборудования и расширил возможности высокоточного поверхностного анализа за пределами условий сверхвысокого вакуума.


Перед отправкой заказчик лично участвовал в испытаниях. Он положительно оценил полученные данные и попросил ускорить поставку. Команда Csi-Lab выполнила демонтаж, упаковку и отправку прибора за одну неделю.
Первый фотоэлектронный спектрометр Csi-Lab для измерений при давлениях, близких к атмосферному, успешно отправлен заказчику.

В октябре 2025 года прибор Csi-Lab успешно прошёл приёмку у заказчика
На площадке заказчика эксплуатируются XPS-спектрометры британской VG Scientific 1982 года, британской Kratos 1990-х годов, немецкой SPECS 2000-х годов, а также система SPECS 2010-х годов, объединяющая XPS и инфракрасную спектроскопию.
В 2025 году этот парк оборудования пополнил первый NAP-XPS-спектрометр китайской компании Csi-Lab, успешно прошедший приёмку. Компания благодарит заказчика за доверие и желает успешных исследований и публикаций.