Описание
X5 — полностью автоматизированный многофункциональный рентгеновский фотоэлектронный спектрометр для быстрых и эффективных XPS-измерений без участия оператора. Поддерживает нейтрализацию заряда, послойный анализ, получение изображений микрообластей, ионную спектроскопию рассеяния (ISS), спектроскопию потерь энергии отражённых электронов (REELS) и сочетание нескольких методов анализа. Позволяет определять элементный состав, содержание элементов, их валентные состояния и электронную структуру материалов. Предназначен для исследований полупроводников, микроэлектроники, аккумуляторных и низкоразмерных материалов, биологических объектов и других задач.
* Полностью автоматизированная загрузка образцов
* Полностью автоматизированные измерения
* Большой столик для образцов и высокая производительность измерений
* Сверхвысокая чувствительность
* Точный анализ микрообластей
* Точный анализ толщины плёнок
