Главная Продукция Серия XPS Полусферический анализатор энергии электронов для измерений при давлениях, близких к атмосферному

Полусферический анализатор энергии электронов для измерений при давлениях, близких к атмосферному

Модель: R150-NAP
Связаться с нами

Описание

Разработан для исследования электронной структуры in situ на границах раздела твёрдое тело — газ и жидкость — газ

* Четырёхступенчатая дифференциальная откачка обеспечивает фотоэлектронные измерения при давлении до 25 мбар

* Первая и вторая ступени дифференциальной откачки могут быть изолированы клапаном

* Максимальный угол приёма ±22°

* Подходит для исследований роста тонких плёнок, поверхностного катализа, электрохимии и других процессов на границах раздела твёрдое тело — газ и жидкость — газ

Технические характеристики

Средний радиус траектории электронов
150 мм
Диапазон энергий
1–1500 эВ
Энергия пропускания
1–200 эВ; доступно несколько значений
Стандартный диаметр апертуры
300 мкм
Угловое разрешение
≤0,1° при размере пятна 0,1 мм
Рабочее расстояние
300–500 мкм
Угол приёма
±22°
Энергетическое разрешение
≤50 мэВ
Рабочее давление
От сверхвысокого вакуума до 25 мбар
Число ступеней дифференциальной откачки
Четыре
Разделение ступеней
Первая или вторая ступень дифференциальной откачки может быть изолирована клапаном
Магнитное экранирование
Двухслойный экран из мю-металла
Детектор
Микроканальная пластина (MCP), люминофорный экран и двумерная ПЗС-камера (CCD)
Источник питания
≤2 ppm для анализатора; высокостабильный высоковольтный источник питания с низким уровнем пульсаций

Другие приборы